2008-05-23 17:37 | 只看楼主
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T3Ster热测试仪—热测试当中的“X射线”

T3Ster 是MicReD研发制造的先进的热测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster运用先进的JEDEC静态试验方法（JESD51-1），通过改变电子器件的的输入功率，使得器件产生温度变化，在变化过程中，T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到
关于该电子器件的全面的热特性。

T3ster的基本配置包括测试主机(包括数控单元、功率驱动单元和1-8个测试通道)以及安装于Windows平台的测量控制和结果分析软件。仪器配备有不同的接口(USB或LPT接口)联接到个人电脑上。除此之外，客户还可以选配各种不同的附件以加强其功能。
T3ster适用于测试不同的电子设备，如：
  • 分离或集成的双极型晶体管、MOS晶体管、常见的三极管、LED封装和半导体闸流管等；
  • 任何复杂的IC器件(利用其内置的基板二极管)；
  • 具有单独加热器和温度传感器的热测试芯片。
  T3ster一般有三种常见的测试模式
  电流步进模式：电压固定， 电流步进；
  电压步进模式：电流固定，电压步进；
  R-Switch模式：电压和电流都变化；

T3Ster热测试仪的工作原理：

    T3Ster 设备提供了非破坏性的热测试方法，其原理为：
  • 首先通过改变电子器件的功率输入；
  • 通过测试设备TSP(Temperature Sensor Parameter热相关参数)测试出电子器件的瞬态温度变化曲线；
  • 对温度变化曲线进行数值处理，抽取出结构函数；
  • 从结构函数中自动分析出热阻和热容等热属性参数；





T3Ster热测试仪的主要应用：

    结合光通量测试工具TERALED，T3Ster可以实时测试在各种功率、各种环境下LED芯片的热阻。
热管或散热器的热性能测试

  利用T3ster，可以对热管或散热器进行快速性能测试，测试出热管的传热量和传热热阻，确定热管的最大传热量，也可以实时测试散热器在各种风速下的热阻。
  利用T3ster，INTEL公司的工程师对Celeron型号的CPU热阻模组进行快速测试，不但实时测试出其热阻，同时也可以测试出散热器的热容属性。
T3Ster热测试仪的主要配件：
1) 用于LED的光测试系统TERALED
什么是TERALED？
TERALED是MicRed与Inphora公司共同开发的用于以T3ster为基础，同时测量LED光、热及辐射特性的测量仪器系统。


    一个完整的TERALED包括：
      T3ster测试仪器；
      T3ster分析软件；
      测量光通量的TERALED积分球；
      TERALED控制盒；
      TERALED分析软件；
      一个电流和温度稳定的基准LED

2) JEDEC标准的测试温箱及测试PCB板
  尺寸为一立方英尺的静止空气测试温箱可以提供满足JEDEC组织JESD51-2的测试环境，同时T3ster也可以提供满足JEDEC测试标准的测试用PCB板

3) 热电偶前置放大器

  MicReD提供的热电偶前置放大器保证了T3ster仪器与所有种类的热电偶的方便联接。

4) T3ster扩展机箱
  扩展盒为T3ster提供了进一步的激励通道，可以用于堆栈封装、MCM封装以及LED封装的多核测试，同时也可以使DUT(被测试器件)的测试速度加快5-7倍。
每个扩展盒都可以额外提供3个激励源； 传感器电流单独提供 在一个T3ster设备上可同时联上两个扩展盒，共可提供7个激励通道。

5) USB接口卡
    利用USB接口卡，可以将T3ster与任何电脑如笔记本电脑方便地联接起来。

6) T3ster外接功率放大器
  T3ster外接功率放大器，可以让T3ster的开关激励功率高达1000W。
　同时客户更可定制激励功率高达2000W的外接功率放大器。

7) 恒温器
采用热电致冷芯片(Peltier单体)，可用于
作为“冷板”
用于传感器修正

8) 加速测试卡
  在瞬态的热测试过程中，电参数同时也在瞬态变化当中，采用加速测试卡，可以大大降低这些电参数瞬态变化对温度场测试的干扰，提高准确度。